УЛЬТРАВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С УСИЛЕННЫМ НАКОНЕЧНИКОМ USM1400-LT TERS

Ультравысоковакуумный (UHV) сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
с функцией спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением
наконечника (TERS) предназначен для проведения измерений с высоким
(< 10 нм) пространственным разрешением, а благодаря Ag усиленному
наконечнику зонда позволяет проводить топографию и картирование
поверхностей с разрешением одномолекулярного уровня в условиях
низких температур (LT).

Особенности:

​

• Нанометрическое разрешение рамановского изображения (<10 нм)

• Элементы оптической системы гарантируют оптимальную фокусировку и высокую интенсивность сигналов в условиях LT UHV

• Высокая степень усиления TERS благодаря Ag наконечнику

• Интегрированный интерфейс Nanofinder FLEX 2™ делает управление системой легким и эффективным

• Диапазон температур образца от 5 К до КТ и ультравысокий вакуум гарантируют высокую стабильность измерений при высокой интенсивности излучения, предотвращают ухудшение чувствительности органических образцов

• Возможно локальное осаждение на чистой и холодной подложке благодаря добавлению органических и неорганических источников осаждения

Применение:

​

• Идентификация дефектов кристаллической решетки

• UHV осаждение и топографический анализ

• Изучение отдельных молекул и их связей

• Высокоточное исследования нанотрубок, графенов, тонких пленок