УЛЬТРАВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С УСИЛЕННЫМ НАКОНЕЧНИКОМ USM1400-LT TERS
Ультравысоковакуумный (UHV) сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
с функцией спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением
наконечника (TERS) предназначен для проведения измерений с высоким
(< 10 нм) пространственным разрешением, а благодаря Ag усиленному
наконечнику зонда позволяет проводить топографию и картирование
поверхностей с разрешением одномолекулярного уровня в условиях
низких температур (LT).
Особенности:
-
Нанометрическое разрешение рамановского изображения (<10 нм)
-
Элементы оптической системы гарантируют оптимальную фокусировку и высокую интенсивность сигналов в условиях LT UHV
-
Высокая степень усиления TERS благодаря Ag наконечнику
-
Интегрированный интерфейс Nanofinder FLEX 2™ делает управление системой легким и эффективным
-
Диапазон температур образца от 5 К до КТ и ультравысокий вакуум гарантируют высокую стабильность измерений при высокой интенсивности излучения, предотвращают ухудшение чувствительности органических образцов
-
Возможно локальное осаждение на чистой и холодной подложке благодаря добавлению органических и неорганических источников осаждения
Применение:
-
Идентификация дефектов кристаллической решетки
-
UHV осаждение и топографический анализ
-
Изучение отдельных молекул и их связей
-
Высокоточное исследования нанотрубок, графенов, тонких пленок